Мир развлечений

Нa грaфикax, oтрaжaющиx oптичeскиe свoйствa нoвoгo типa стeклa были oбнaружeны нeoбычныe пики и всплeски, кoтoрыe, кaк объясняют исследователи, появились в результате упорядоченной молекулярной структуры материала. Но, использование других температурных диапазонов в процессе позволит получать материалы, имеющие несколько отличное молекулярное строение, нежели самый первый из полученных материалов.»В ближайшем времени мы собираемся продолжить исследования и точно выяснить, как и какие условия процесса осаждения влияют на параметры кристаллической структуры «упорядоченного стекла»» — пишут представители Чикагского университета, — «Весьма вероятно, что при помощи такого подхода нам удастся изготовить стекло, обладающее поистине экзотическими оптическими свойствами, которое может быть использовано при создании новых высокоэффективных солнечных батарей, светодиодных и лазерных источников света и оптоволокна, позволяющего получить огромные скорости передачи данных». Новый же тип стекла, наоборот, имеет упорядоченную кристаллическую структуру, а исследования свойств этого материала выявили некоторые «необычные всплески» в его оптических свойствах, что позволит в будущем использовать это стекло при создании новых высокоэффективных оптических устройств и приборов.Новый тип стекла был получен группой профессора Хуана де Пабло (Juan de Pablo), которая работала совместно с группой ученых-экспериментаторов из университета Висконсина, возглавляемой Марком Эдиджером (Mark Ediger). Стекло, материал, который известен практически каждому человеку, является аморфным материалом, не имеющим определенной кристаллической структуры. Ученые из Чикагского университета совершенно случайно, как это часто бывает в области экспериментальных исследований, получили абсолютно новый тип стекла. Эти молекулы медленно опускались на основание из некоего материала, состав которого пока не раскрывается, пока толщина осажденного слоя не достигла необходимого ученым значения.Полученный материал был проанализирован при помощи метода спектрографической эллипсометрии, который позволяет измерить все основные параметры взаимодействия света лазера и исследуемого материала.